Инструменты Рентгеновского Анализа: Mistral
Загрузить Adobe Flash Player

Инструменты Рентгеновского Анализа: Mistral

Печать PDF
 
Рентгенофлуоресцентный анализатор спектрометр Karatmeter MISTRAL
  

Быстрое неразрушающее высокоточное определение карат / процентного содержания        драгоценных металлов и толщины слоя с помощью технологии микрофокусного                                     рентгеновского флуоресцентного анализа спектрометрии ( РФА )

 

Базируясь на исследованиях, анализе и экспериментах, осуществлённых за последние десятилетия в области рентгеновского микро фокусного анализа , Bruker-AXS Microanalysis GmbH, Germany, разработал и создал комплектующие (OEM- kits) для создания рентгеновского анализатора спектрометра karatmeter MISTRAL приняв во внимание  самые современные инновации в рентгеновской технике. Bruker-AXS  - это мировой лидер , предоставляющий передовые рентгеновские системы и законченные решения для рентгеновского  структурного и элементного анализа спектрометрии, используя рентгеновский флуоресцентный анализ и другие сложные методы анализа.

Устройство точно и быстро определяет процентное содержание (или карат) в цельных ювелирных изделиях , драгоценных монетах или других изделий из драгоценных металлов используя рентгеновские аналитические методы. Прибор великолепно определяет элементный состав золотых сплавов, металлов платиновой группы и серебряных сплавов. Можно проводить анализ как цельных объёмных частей, так и тонких слоёв бесконтактным неразрушающим методом, без предварительной подготовки образца.  

 
 

Позиционирование объекта исследования может быть легко осуществлено с помощью видео  - микроскопа

и начинается с измерений.

 

Рентгеноанализатор -спектрометр Каратметер МИСТРАЛ поставляется с 2-мя типами рентгеновских детекторов  - с газонаполненным пропорциональным счётчиком с большой чувствительной площадью для стандартного контроля качества, а также кремниевый дрейфовый детектор   (silicon drift detector (SDD)) с повышенным разрешением по скорости и энергии, обеспечивающий предел определения до 0.01 весовых процентов (wt. %.). Эти детекторы , цифровая импульсная обработка и оптимальные геометрические условия обеспечивают  максимальную эффективность в детектировании рентгеновских квантов  и дальнейшем быстром анализе.

 

Оборудование постоянно улучшается на основе инноваций в установившихся техниках  высокоточного

анализа металлов. Хотите ли вы контролировать качество  образцов в сравнении со  стандартными образцами,

или определять состав неизвестных материалов, аналитическое программное обеспечение XSpect предлагает

вам отличный инструментарий для целей количественного анализа как объёмных образцов, так и тонких слоёв.

 
Параметр

Каратметер МИСТРАЛ

с пропорциональным счётчиком

Каратметер МИСТРАЛ

с кремниевым дрейфовым детектором 

Возбуждение

Микрофокусная, высокопроизводительная, с вольфрамовой мишенью, с тонким стеклянным окном  рентгеновская трубка 

 

Микрофокусная, высокопроизводительная, с вольфрамовой мишенью, с тонким бериллиевым окном рентгеновская трубка
Высокое напряжение40 кВ/1.0 мА (40 Вт), оптимизировано под приложения

50 кВ/1.0 мА (50 Вт) с программируемым блоко высокого напряжения для оптимизации под приложения

 

Детектор

Газонаполненный пропорциональный

счётчик с широким чувствительным окном

и температурной компенсацией

 

Высокопроизводительный кремниевый дрейфовый детектор XFlash (SDD) с охлаждением Пельтье c чувствительной площадью 30 мм , высоким энергетическим разрешением лучше чем 160 еВ
Размер фокусного пятна

Фиксированный коллиматор 0.3 мм или 0.5 мм 

 

4-х позиционный моторизованный сменщик коллиматоров от 0.13 до 0.7 мм 
Обзор образца

CCTV цветная USB камера высокого

разрешения с мультиплексированной

графикой, увеличением от 20x до 40x 

 

CCTV цветная USB камера высокого

разрешения с мультиплексированной

графикой, увеличением от 20x до 40x

Количественный анализ 

Эмпирическая модель на основе стандарта

используя несколько

проанализированных образцов,

модель фундаментальных параметров

для без стандартного анализа

Эмпирическая модель на основе

стандарта, модель

фундаментальных параметров

для без стандартного анализа

объёмных образцов и определения

толщин покрытий

Источник питания

110/230 В ~, 50/60 Гц, 100 Вт

 

110/230 В ~, 50/60 Гц, 120 Вт
Размеры (ШxГxВ)

465 X 670 X 380 мм (ШxГxВ)

 

465 X 670 X 380 мм (ШxГxВ)
Вес

36 кг

 

40 кг
 

XSpect аналитический программный пакет

Управление прибором, управление и сбор данных

 

Идентификация пиков, деконволюция и анализ спектра

 

Количественный анализ состава, эмпирический на основе стандарта и без стандартный на основе фундаментальных параметров каллибровочные методы

 

Анализ толщин и состава тонких слоёв и покрытий 

 

Редактор для создания конкретных приложений для анализа слоёв с использованием метода фундаментальных параметров

 

Генератор отчётов, статистическая обработка, сохранение и печать

 
 

* Конфигурация и технические характеристики могут изменяться с целью улучшения