Инструменты рентгеновского анализа: Рентгеновский комплекс для Нанотехнологических исследований

Аналитическая система для рентгеновского анализа: рефлектометрия, дифрактометрия, рефрактометрия, малоугловое рассеяние, абсорбционная спектрометрия  и рентгенофлуоресцентный анализ в одном приборе. Уникальный прибор для современных исследований в области материаловедения и нанотехнологий.

Шесть основных методов измерений

•      рефлектометрия

•      дифрактометрия

•      рентгеновский флуоресцентный анализ

•      рефрактометрия

•      малоугловое рассеяние

•      измерение спектров поглощения

Определяемые характеристики

толщина тонких слоев (1 - 300 нм)

параметры кристаллической решетки монокристаллов и поликристаллов (от 0.1 нм)

плотность поверхностных слоев

период многослойных структур (от 0.5 нм)

размеры и концентрации нано - частиц и нано - пор диаметром 1-50 нм

элементный состав образцов